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基于邊界掃描的EPM9320LC84電路板故障診斷
摘要：結合自適應算法、CX-TB導通測試算法以及二進制計數測試序列，給出了用軟件控制EPM9320LC84邊界掃描鏈路，以輸出圖形并采集引腳對圖形的響應，然后通過比較輸出測試圖形與采集測試圖形的差異實現芯片I／O引腳印刷電路板故障的診斷方法。該測試圖形便于實現，測試方法快捷、通用性強，診斷結果準確，故障覆蓋率高。文中在以ＰＣ機作為邊界掃描測試向量生成和故障診斷的基礎上，對單芯片——EPM9320LC84的印刷電路板故障診斷進行了一些討論。IEEE 1149.1標準規定的邊界掃描技術是針對復雜數字電路而制定的。標準中的自治測試技術現已成為數字系統可測性設計的主流。在利用邊界掃描技術對芯片印刷電路板進行測試時，單芯片與多芯片電路板雖有相同點，但也有不同點。因為多芯片的電路板可以將幾個芯片分別作為測試向量進行發送和接收，而單芯片電路板則只需要一個集發送、接收于一體的芯片。本文在以ＰＣ機作為邊界掃描測試向量生成和故障診斷的基礎上，對單芯片ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４的印刷電路板故障診斷進行了討論。
１ ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４的結構和性能
１．１ 主要性能
ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４是Ａｌｔｅｒａ公司生產的ＥＰＬＤ器件，它的主要性能如下：
●內含ＪＴＡＧ邊界掃描測試電路。
●在５Ｖ電源條件下，ＪＴＡＧ接口可編程。
●所有的Ｉ／Ｏ均可在３．３Ｖ或５Ｖ電源下工作，并且在引腳處都有輸入／輸出寄存器。
●Ａｌｔｅｒａ ＭＡＸ＋ＰＬＵＳⅡ 開發系統可提供軟件設計支持，該開發系統可工作在４８６ＰＣ機、奔騰ＰＣ機、Ｓｕｎ ＳＰＡＲＣ工作站、ＨＰ９０００系列７００工作站、ＩＢＭ ＲＩＳＣ系統／６０００或ＤＥＣ Ａｌｐｈａ ＡＸＰ工作站上。
●利用ＥＤＩＦ、Ｖｅｒｉｌｏｇ ＨＤＬ、ＶＨＤＬ和其它軟件可通過ＣＡＥ工具（如ＯｒＣＡＤ）提供仿真支持。
１．２ 管腳說明
圖１是ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４的引腳圖，其功能如下：
ＶＣＣ、ＶＰＰ：芯片電源端。
ＧＮＤ:芯片地端。
Ｉ／Ｏ：輸入／輸出引腳。
ＩＮ１～ＩＮ４:專用輸入引腳。
ＴＣＫ，ＴＭＳ：分別為時鐘測試和測試模式選擇端。
：測試模式選擇端。
ＴＤＩ，ＴＤＯ?分別為測試數據輸入、輸出端。
其中，ＴＣＫ、ＴＭＳ、ＴＤＩ、ＴＤＯ為ＪＴＡＧ邊界掃描接口，它們和芯片內部的邊界掃描寄存器?５０４個數據捕獲寄存器，１６８個數據更新寄存器，一個指令捕獲寄存器，一個指令更新寄存器?鏈形成的邊界掃描結構一起可用于芯片內部和外部測試。
２ 測試系統配置
把ＢｙｔｅＢｌａｓｔｅｒ 下載電纜連到ＰＣ機的打印并口可實現ＰＣ機并口與ＪＴＡＧ接口的互連。ＰＣ機可用軟件來控制邊界掃描接口以完成邊界掃描測試任務。
利用ＶＣ＋＋語言可編寫ＭＦＣ應用程序（內容主要包括：ＴＡＰ控制類、測試向量生成、發送、采集類、故障診斷類等）?以達到人機交互、故障診斷、數據管理三個方面的要求。
３ 數據發送與數據采集
３．１ 數據發送
通過ｅｘｔｅｓｔ模式發送數據時。可在移位階段將捕獲寄存器的數據移出，同時將測試圖形移入。而在更新階段，測試圖形從捕獲寄存器傳送到更新寄存器，再由更新寄存器驅動測試信號并將其輸出至Ｉ／Ｏ引腳。對于單芯片電路板來說，無論是輸入引腳，還是在引腳發送測試圖形時，其控制三態均應為輸出狀態，即令ＯＥＪ更新寄存器為１。
３．２ 數據采集
數據采集的目的是得到引腳對測試圖形的響應。如果引腳正確，輸出的測試圖形就等于采集到的測試圖形，如果引腳出現故障，兩者必有差異。由于采集到的測試數據就是故障診斷的依據，所以能否正確、合理地采集到數據是數據采集的關鍵。單芯片電路板不像多芯片那樣利用ｓａｍｐｌｅ模式采集數據，而是仍舊利用ｅｘｔｅｓｔ模式來采集數據。
圖２是利用ｓａｍｐｌｅ模式采集數據的原理圖。在捕獲階段，由ＯＥＪ和ＯＵＴＪ來控制三態門狀態，以使電路板上三態輸入引腳為高阻狀態，三態輸出引腳為輸出狀態。由于采集的數據是引腳的實際狀態，而不是引腳對輸出測試圖形的響應，故用ｓａｍｐｌｅ模式不能正確地采集測試圖形以用于故障診斷。
圖３是利用ｅｘｔｅｓｔ模式在捕獲階段進行數據采集的示意圖，圖中的三態門受ＯＥＪ、ＯＵＴＪ更新寄存器控制，而這兩個寄存器的數值是發送測試圖形時的值，三態有效。所以它所采集的數據即為引腳對測試圖形的響應，可以滿足采集要求。
４ 測試算法
電路板常見故障模型有呆滯型故障、固定開路故障和短路故障。為了消除誤判和混淆故障及提高診斷速度，可在算法上結合電路結構對自適應算法和ＣＸ－ＴＢ導通測試算法以及二進制計數測試序列進行改進，以對引腳全部的短路故障、呆滯故障進行完備診斷。具體步驟如下：
（１）引腳分類
電路圖中的引腳可分為輸入、輸出、輸入／輸出、空閑、專用輸入、地／電源、ＮＣ幾類。由于專用輸入引腳邊界掃描結構沒有更新寄存器，所以測試圖形無法輸出到引腳?因此不能用此方法測試。而地／電源引腳、ＮＣ引腳不帶有邊界掃描結構所以也不能測試。故此，真正能進行測試的引腳只有前四類。可令ｎ等于前四類引腳數目的總和。
（２）生成測試向量
按照引腳號對前四類引腳進行從小到大排序，序號為：０到ｎ－１，然后計算ｌｏｇ２(ｎ＋２）的值，再根據有余進一的原則算出并行測試向量個數ｍ。為避免出現誤判，可從０００……１開始進行二進制計數，以形成測試向量，其行數為ｎ，列數為ｍ。
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